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对覆盖件模具型面的数控加工工艺进行详细分析。结合工艺优化和工艺经验,以大型加工软件Power MILL 2012为平台,开发了覆盖件模具型面数控加工CAPP工艺模板,规范了模具型面加工工艺参数及路线,提高了数控编程效率和质量,实现了汽车覆盖件模具设计制造的一体化。实际应用证明,该CAPP工艺模板具有实用性和高效性。 相似文献
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为了充分发挥底抽巷的作用,从根本上解决河南某矿的瓦斯治理问题,通过现场观测煤巷掘进和工作面回采过程中保护巷的变形情况,掌握一线资料,通过理论分析及实测数据掌握保护巷受采动影响时的变形规律,为保护巷和被保护巷相对位置的选取提供科学、合理的依据。 相似文献
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为对三山岛金矿顶底柱回采的采矿方法进行科学合理的评价,在综合考虑影响采矿方法因素的基础上,以技术、经济、安全等因素建立综合评价指标体系,采用层次分析法和熵权法对评价指标进行组合赋权,利用基于组合赋权的理想点法对待选方案进行综合评价,计算出各方案的优越度,科学、合理地优选出采矿方法。 相似文献
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Elisa García‐Tabars John A. Carlin Tyler J. Grassman Diego Martín Ignacio Rey‐Stolle Steven A. Ringel 《Progress in Photovoltaics: Research and Applications》2016,24(5):634-644
The evolution of Si bulk minority carrier lifetime during the heteroepitaxial growth of III–V on Si multijunction solar cell structures via metal‐organic chemical vapor deposition (MOCVD) has been analyzed. In particular, the impact on Si lifetime resulting from the four distinct phases within the overall MOCVD‐based III–V/Si growth process were studied: (1) the Si homoepitaxial emitter/cap layer; (2) GaP heteroepitaxial nucleation; (3) bulk GaP film growth; and (4) thick GaAsyP1‐y compositionally graded metamorphic buffer growth. During Phase 1 (Si homoepitaxy), an approximately two order of magnitude reduction in the Si minority carrier lifetime was observed, from about 450 to ≤1 µs. However, following the GaP nucleation (Phase 2) and thicker film (Phase 3) growths, the lifetime was found to increase by about an order of magnitude. The thick GaAsyP1‐y graded buffer was then found to provide further recovery back to around the initial starting value. The most likely general mechanism behind the observed lifetime evolution is as follows: lifetime degradation during Si homoepitaxy because of the formation of thermally induced defects within the Si bulk, with subsequent lifetime recovery due to passivation by fast‐diffusing atomic hydrogen coming from precursor pyrolysis, especially the group‐V hydrides (PH3, AsH3), during the III–V growth. These results indicate that the MOCVD growth methodology used to create these target III–V/Si solar cell structures has a substantial and dynamic impact on the minority carrier lifetime within the Si substrate. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
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